芯片失效分析——復(fù)達(dá)客戶檢測案例
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782 客戶背景
客戶是上海某醫(yī)療科技公司，發(fā)現(xiàn)其中一臺(tái)設(shè)備中芯片進(jìn)行讀寫時(shí)操作失敗。據(jù)委托方提供的信息，正常芯片DAT和GND引腳的阻抗約為10M歐，這顆異常芯片的阻抗無窮大。故委托方委托我司對故障的芯片進(jìn)行失效分析。
樣品名稱
IEERAM 芯片
客戶需求
對故障的芯片進(jìn)行失效分析
解決方案
我司工程師對失效芯片1#和良好芯片2#進(jìn)行測試。分別對芯片進(jìn)行了外觀，X-ray，SAM，開蓋觀察，電性能測試。探明失效原因由于第二焊點(diǎn)的焊線脫落導(dǎo)致的。
中優(yōu)采 丨 空心銷軸鏈條 丨 高低溫交變試驗(yàn)箱 丨 中科國研軟件開發(fā) 丨 映山紅智慧檢測
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